Voor mono-Si-wafels wordt 158,75 mm volledig vierkant het meest gebruikte ontwerp tegen de tweede helft van het jaar. Slechts een paar fabrikanten gebruiken wafers die groter zijn dan dit. LG en Hanwha Q Cells gebruiken bijvoorbeeld M4-wafels (161,7 mm), terwijl Longi 166 mm-wafels promoot.
De ultramoderne Full Square Mono Wafers hebben de lichtblootstelling gemaximaliseerd tot hetzelfde niveau van multiwafer door de vierkante maat uit te breiden. De wafers zijn altijd volledig vierkant zodat ze optimaal op de PV-module passen.
1 Materiaaleigenschappen
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Groei methode | CZ | |
kristalliniteit | Monokristallijn | Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88） |
Geleidbaarheidstype: | N-type | Napson EC-80TPN |
Doteringsmiddel | Fosfor | - |
Zuurstofconcentratie[Oi] | ≦8E+17 bij/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koolstofconcentratie [Cs] | ≦5E+16 bij/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Etch pitdichtheid (dislocatiedichtheid) | ≦500 cm-3 | Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88） |
Oppervlakteoriëntatie | & lt;100>±3° | Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987) |
Oriëntatie van pseudo-vierkante zijden | & lt;010>,<001>±3° | Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987) |
2 elektrische eigenschappen:
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Weerstand | 0,3-2,1 .cm 1,0-7,0 .cm | Wafer inspectiesysteem |
MCLT (levensduur van de minderheidsdrager) | ≧1000 μs (weerstand 0,3-2,1 Ω.cm) | Sinton van voorbijgaande aard |
3 Geometrie
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Geometrie | Volledig vierkant | |
Lengte wafelzijde: | 158,75 ± 0,25 mm | wafel inspectiesysteem: |
Wafeldiameter: | φ223±0,25 mm | wafel inspectiesysteem: |
Hoek tussen aangrenzende zijden | 90° ± 0.2° | wafel inspectiesysteem: |
Dikte | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | wafel inspectiesysteem: |
TTV (Totale diktevariatie) | ≤ 27 µm | wafel inspectiesysteem: |
4 Oppervlakte eigenschappen
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Snijmethode: | DW | -- |
Oppervlaktekwaliteit | zoals gesneden en schoongemaakt, geen zichtbare vervuiling, (olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, slibvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan) | wafel inspectiesysteem: |
Zaagsporen/stappen | ≤ 15µm | wafel inspectiesysteem: |
Boog | ≤ 40 µm | wafel inspectiesysteem: |
kromtrekken | ≤ 40 µm | wafel inspectiesysteem: |
Chip | diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2/st.; geen V-chip | Blote ogen of wafelinspectiesysteem |
Microscheuren/gaatjes | Niet toegestaan | wafel inspectiesysteem: |
Populaire tags: n type 158,75 mm monokristallijne zonnewafel, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China
