Momenteel gebruikt silicium zonne-PV voornamelijk 156,75 mm x 156,75 mm P-type monokristallijne wafels, maar sommige migreren naar grotere wafel- en celafmetingen zoals 158,75 mm x 158,75 mm. Sommige fabrikanten zijn daar al mee begonnen. Een van de redenen waarom de vierkante wafer van 158,75 mm meer focus krijgt, is dat de afmetingen van de module dicht bij de standaard 60-cel enModules met 72 cellen, die zorgen voor retrofit en behoud van bestaande productieapparatuur.
In de toekomst voor mono-Si-wafels zal 158,75 mm volledig vierkant het meest aangenomen ontwerp worden door de meeste zonne-PV-fabrikanten. Natuurlijk zijn er een paar fabrikanten die wafers gebruiken die groter zijn dan dit. LG en Hanwha Q Cells gebruiken bijvoorbeeld M4-wafels (161,7 mm), terwijl Longi 166 mm (M6)-wafels promoot.
1 Materiaaleigenschappen
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Groei methode | CZ | |
kristalliniteit | Monokristallijn | Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88） |
Geleidbaarheidstype: | P-type | Napson EC-80TPN P/N |
Doteringsmiddel | Boor, Gallium | - |
Zuurstofconcentratie[Oi] | ≦8E+17 bij/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koolstofconcentratie [Cs] | ≦5E+16 bij/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Etch pitdichtheid (dislocatiedichtheid) | ≦500 cm-3 | Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88） |
Oppervlakteoriëntatie | & lt;100>±3° | Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987) |
Oriëntatie van pseudo-vierkante zijden | & lt;010>,<001>±3° | Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987) |
2 elektrische eigenschappen:
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Weerstand | 0,5-1,5 cm | Wafer inspectiesysteem |
MCLT (levensduur van de minderheidsdrager) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (met injectieniveau: 1E15 cm-3) |
3Geometrie
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Geometrie | Volledig vierkant | |
Lengte wafelzijde: | 158,75 ± 0,25 mm | wafel inspectiesysteem: |
Wafeldiameter: | φ223±0,25 mm | wafel inspectiesysteem: |
Hoek tussen aangrenzende zijden | 90° ± 0.2° | wafel inspectiesysteem: |
Dikte | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | wafel inspectiesysteem: |
TTV (Totale diktevariatie) | ≤27 µm | wafel inspectiesysteem: |
4 Oppervlakte eigenschappen
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Snijmethode: | DW | -- |
Oppervlaktekwaliteit | zoals gesneden en schoongemaakt, geen zichtbare vervuiling, (olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, slibvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan) | wafel inspectiesysteem: |
Zaagsporen/stappen | ≤ 15µm | wafel inspectiesysteem: |
Boog | ≤ 40 µm | wafel inspectiesysteem: |
kromtrekken | ≤ 40 µm | wafel inspectiesysteem: |
Chip | diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2/st.; geen V-chip | Blote ogen of wafelinspectiesysteem |
Microscheuren/gaatjes | Niet toegestaan | wafel inspectiesysteem: |
Populaire tags: p type 158,75 mm monokristallijne zonnewafel, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China
