P Type 182mm Monokristallijn Zonnewafel

P Type 182mm Monokristallijn Zonnewafel

182mmx182mm M12 monokristallijn silicium zonnewafel met diameter van 247mm kan hogere macht zonnecellen maken.
Share to
Aanvraag sturen
Praat nu
Beschrijving
Technische Parameters


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


210mmx210mm M12 monokristallijn silicium zonnewafel met diameter van 295mm is 80,5% groter dan M2 wafer.


1      Materiaaleigenschappen

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

Groeimethode

Cz


Kristalliniteit

Monokristallijn

 

Preferentiële etstechnieken(ASTM F47-88)

Geleidbaarheidstype

P-type

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

 

Boor, Gallium

 

-

Zuurstofconcentratie[Oi]

≦8E+17 bij/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koolstofconcentratie[Cs]

≦5E+16 bij/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etsputdichtheid (dislocatiedichtheid)

≦500 cm-3

Preferentiële etstechnieken(ASTM F47-88)

Oppervlakteoriëntatie

<100>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

Oriëntatie van pseudo vierkante zijden

<010>,<001>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

 

2      Elektrische eigenschappen

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

Weerstand

0,5-1,5 Ωcm

Wafer inspectiesysteem

MCLT (levensduur minderheidsdrager)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(met injectieniveau: 1E15 centimeter-3)

 

3      meetkunde

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

meetkunde

Volledig vierkant


Wafer Zijlengte

182±0,25 mm

wafer inspectiesysteem

Wafer Diameter

φ247±0,25 mm

wafer inspectiesysteem

Hoek tussen aangrenzende zijden

90° ± 0,2°

wafer inspectiesysteem

dikte

180﹢20/﹣10 μm;

170﹢20/﹣10 μm

wafer inspectiesysteem

TTV (Totale diktevariatie)

≤27 μm

wafer inspectiesysteem


 image

 

 

4      Oppervlakte-eigenschappen

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

Snijmethode

Dw

--

Oppervlaktekwaliteit

zoals gesneden en gereinigd, geen zichtbare verontreiniging(olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, drijfmestvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan)

wafer inspectiesysteem

Zaagmarkeringen / stappen

≤ 15μm

wafer inspectiesysteem

boog

≤ 40 μm

wafer inspectiesysteem

schering

≤ 40 μm

wafer inspectiesysteem

bikken

diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2 / stuks;   geen V-chip

Inspectiesysteem voor blote ogen of wafers

Micro scheuren / gaten

Niet toegestaan

wafer inspectiesysteem




Populaire tags: p type 182mm monokristallijne zonnewafel, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China

Aanvraag sturen
Aanvraag sturen