P Type Directional Solidification Mono zoals Solar Wafer Inclusief 166 mm * 166 mm

P Type Directional Solidification Mono zoals Solar Wafer Inclusief 166 mm * 166 mm

Directionele stolling monokristallijne zonnewafel is een van de veelbelovende alternatieve wafelmaterialen in vergelijking met monokristallijne siliciumwafel en multikristallijne siliciumwafel vanwege de relatief hogere conversie-efficiëntie en lagere productiekosten. Maar er is nog veel ruimte om de kristalkwaliteit te verbeteren en de productiekosten te verlagen, wat de wafels praktisch in de fotovoltaïsche industrie zou kunnen duwen.
Share to
Aanvraag sturen
Praat nu
Beschrijving
Technische Parameters

Directional Solidification Monocrystalline wafer 1


Directional Solidification Monocrystalline wafer 3


Directionele stolling mono zoals zonnewafelis een van de veelbelovende alternatieve wafelmaterialen in vergelijking met monokristallijne siliciumwafel en multikristallijne siliciumwafel vanwege de relatief hogere conversie-efficiëntie en lagere productiekosten. Maar er is nog veel ruimte om de kristalkwaliteit te verbeteren en de productiekosten te verlagen, wat de wafels praktisch in de fotovoltaïsche industrie zou kunnen duwen.

1 Materiaaleigenschappen

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Groei methode

directionele stolling

XRD

kristalliniteit

Monokristallijn

VoorkeursetstechniekenASTM F47-88

Geleidbaarheidstype:

P-type

Napson EC-80TPN

P/N

Doteringsmiddel

Borium (Gallium)

-

Zuurstofconcentratie[Oi]

1E+17 bij/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koolstofconcentratie [Cs]

1E+18 bij/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

2 elektrische eigenschappen:

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Weerstand

0,5-2 Ωcm (na gloeien)

Wafer inspectiesysteem

MCLT (levensduur van de minderheidsdrager)

10 μs

Sinton QSSPC

3 Geometrie

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Geometrie

Vierkant of rechthoek

Wafer inspectiesysteem

Schuine rand vorm

Lijn

Wafer inspectiesysteem

Wafelgrootte:

(Zijlengte * zijlengte)

156 mm * 156 mm

157 mm * 186 mm

166 mm * 166 mm

Wafer inspectiesysteem

Hoek tussen aangrenzende zijden

90±3°

Wafer inspectiesysteem


Populaire tags: p type directionele stolling mono-achtige zonnewafer inclusief 166 mm * 166 mm, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China

Aanvraag sturen
Aanvraag sturen