P Type 210mm Monokristallijn Zonnewafel

P Type 210mm Monokristallijn Zonnewafel

210mmx210mm M12 monokristallijn silicium zonnewafel met diameter van 295mm is 80,5% groter dan M2 wafer.
Share to
Aanvraag sturen
Praat nu
Beschrijving
Technische Parameters


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


210mmx210mm M12 monokristallijn silicium zonnewafel met diameter van 295mm is 80,5% groter dan M2 wafer.


1      Materiaaleigenschappen

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

Groeimethode

Cz


Kristalliniteit

Monokristallijn

 

Preferentiële etstechniekenASTM F47-88

Geleidbaarheidstype

P-type

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

 

Boor, Gallium

 

-

Zuurstofconcentratie[Oi]

≦8E+17 bij/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koolstofconcentratie[Cs]

5E+16 bij/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etsputdichtheid (dislocatiedichtheid)

500 cm-3

Preferentiële etstechniekenASTM F47-88

Oppervlakteoriëntatie

<100>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

Oriëntatie van pseudo vierkante zijden

<010>,<001>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

 

2      Elektrische eigenschappen

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

Weerstand

0,5-1,5 Ωcm

Wafer inspectiesysteem

MCLT (levensduur minderheidsdrager)

50 μs

Sinton BCT-400

(met injectieniveau: 1E15 centimeter-3)

 

3      meetkunde

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

meetkunde

Volledig vierkant


Wafer Zijlengte

210±0,25 mm

wafer inspectiesysteem

Wafer Diameter

φ295±0,25 mm

wafer inspectiesysteem

Hoek tussen aangrenzende zijden

90° ± 0,2°

wafer inspectiesysteem

dikte

18020/10 μm;

17020/10 μm

wafer inspectiesysteem

TTV (Totale diktevariatie)

27 μm

wafer inspectiesysteem


 210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

 

 

4      Oppervlakte-eigenschappen

 

eigenschap

specificatie

Inspectiemethode

Snijmethode

Dw

--

Oppervlaktekwaliteit

zoals gesneden en gereinigd, geen zichtbare verontreiniging(olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, drijfmestvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan)

wafer inspectiesysteem

Zaagmarkeringen / stappen

≤ 15μm

wafer inspectiesysteem

boog

≤ 40 μm

wafer inspectiesysteem

schering

≤ 40 μm

wafer inspectiesysteem

bikken

diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2 / stuks;   geen V-chip

Inspectiesysteem voor blote ogen of wafers

Micro scheuren / gaten

Niet toegestaan

wafer inspectiesysteem




Populaire tags: p type 210mm monokristallijne zonnewafel, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China

Aanvraag sturen
Aanvraag sturen