M6 solar wafer 2

P type monocrystalline wafer 1

P type monocrystalline wafer 2

P-type M6 monokristallijn silicium zonnewafel met een lengte van 166 mm en een diameter van 223 mm is 12,21% groter dan de M2-wafel. het betekent dat zonnecellen gemaakt van M6-substraat een 12,21% hoger vermogen hebben dan die gemaakt van M2-substraat.

1 Materiaaleigenschappen

Eigendom	Specificatie	inspectie methode
Groei methode	CZ
kristalliniteit	Monokristallijn	Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88）
Geleidbaarheidstype:	P-type	Napson EC-80TPN P/N
Doteringsmiddel	Boor, Gallium	-
Zuurstofconcentratie[Oi]	≦8E+17 bij/cm³	FTIR (ASTM F121-83)
Koolstofconcentratie [Cs]	≦5E+16 bij/cm³	FTIR (ASTM F123-91)
Etch pitdichtheid (dislocatiedichtheid)	≦500 cm^-3	Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88）
Oppervlakteoriëntatie	& lt;100>±3°	Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)
Oriëntatie van pseudo-vierkante zijden	& lt;010>,<001>±3°	Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

2 elektrische eigenschappen:

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Weerstand

0,5-1,5 cm

Wafer inspectiesysteem

MCLT (levensduur van de minderheidsdrager)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(met injectieniveau: 1E15 cm^-3)

3Geometrie

Eigendom	Specificatie	inspectie methode
Geometrie	Volledig vierkant
Lengte wafelzijde:	166 ± 0,25 mm	wafel inspectiesysteem:
Wafeldiameter:	φ223±0,25 mm	wafel inspectiesysteem:
Hoek tussen aangrenzende zijden	90° ± 0.2°	wafel inspectiesysteem:
Dikte	180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm	wafel inspectiesysteem:
TTV (Totale diktevariatie)	≤27 µm	wafel inspectiesysteem:

166mmx166mm M6 solar wafer

4 Oppervlakte eigenschappen

Eigendom	Specificatie	inspectie methode
Snijmethode:	DW	--
Oppervlaktekwaliteit	zoals gesneden en schoongemaakt, geen zichtbare vervuiling, (olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, slibvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan)	wafel inspectiesysteem:
Zaagsporen/stappen	≤ 15µm	wafel inspectiesysteem:
Boog	≤ 40 µm	wafel inspectiesysteem:
kromtrekken	≤ 40 µm	wafel inspectiesysteem:
Chip	diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2/st.; geen V-chip	Blote ogen of wafelinspectiesysteem
Microscheuren/gaatjes	Niet toegestaan	wafel inspectiesysteem:

Populaire tags: p type m6 monokristallijne zonnewafel, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China

P Type M6 Monokristallijn zonnewafeltje

Misschien vind je dit ook leuk

Aanvraag sturen