P Type M10 Monokristallijn zonnewafeltje

P Type M10 Monokristallijn zonnewafeltje
product Introductie:
M10 met een afmeting van 182 mm x 182 mm monokristallijn silicium zonnewafel met een diameter van 247 mm kan zonnecellen met een hoger vermogen maken.
Aanvraag sturen
Praat nu
Beschrijving
Technische Parameters


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


210 mm x 210 mm M12 monokristallijn silicium zonnewafel met een diameter van 295 mm is 80,5% groter dan de M2-wafel.


1 Materiaaleigenschappen

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Groei methode

CZ


kristalliniteit

Monokristallijn

VoorkeursetstechniekenASTM F47-88

Geleidbaarheidstype:

P-type

Napson EC-80TPN

P/N

Doteringsmiddel

Boor, Gallium

-

Zuurstofconcentratie[Oi]

≦8E+17 bij/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koolstofconcentratie [Cs]

5E+16 bij/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etch pitdichtheid (dislocatiedichtheid)

500 cm-3

VoorkeursetstechniekenASTM F47-88

Oppervlakteoriëntatie

& lt;100>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

Oriëntatie van pseudo-vierkante zijden

& lt;010>,<001>±3°

Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987)

2 elektrische eigenschappen:

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Weerstand

0,5-1,5 cm

Wafer inspectiesysteem

MCLT (levensduur van de minderheidsdrager)

50 μs

Sinton BCT-400

(met injectieniveau: 1E15 cm-3)

3Geometrie

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Geometrie

Volledig vierkant


Lengte wafelzijde:

182 ± 0,25 mm

wafel inspectiesysteem:

Wafeldiameter:

φ247±0,25 mm

wafel inspectiesysteem:

Hoek tussen aangrenzende zijden

90° ± 0.2°

wafel inspectiesysteem:

Dikte

18020/10 µm;

17020/10 µm

wafel inspectiesysteem:

TTV (Totale diktevariatie)

27 µm

wafel inspectiesysteem:


image

4 Oppervlakte eigenschappen

Eigendom

Specificatie

inspectie methode

Snijmethode:

DW

--

Oppervlaktekwaliteit

zoals gesneden en schoongemaakt, geen zichtbare vervuiling, (olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, slibvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan)

wafel inspectiesysteem:

Zaagsporen/stappen

≤ 15µm

wafel inspectiesysteem:

Boog

≤ 40 µm

wafel inspectiesysteem:

kromtrekken

≤ 40 µm

wafel inspectiesysteem:

Chip

diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2/st.; geen V-chip

Blote ogen of wafelinspectiesysteem

Microscheuren/gaatjes

Niet toegestaan

wafel inspectiesysteem:




 

Populaire tags: p type m10 monokristallijne zonnewafel, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China

Aanvraag sturen
Hoe de kwaliteitsproblemen na verkoop oplossen?
Maak foto's van de problemen en stuur deze naar ons. Nadat we de problemen hebben bevestigd, kunnen wij
zal binnen enkele dagen een tevreden oplossing voor u maken.
neem contact met ons op