In 2019 werden M12 (210 mm x 210 mm) p-Type monowafels (295 mm diameter siliciumstaaf) gelanceerd. Het 6-inch formaat M2 (156,75 mm x 156,75 mm) zal naar verwachting worden geplaatst door M12 en M6.
1 Materiaaleigenschappen
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Groei methode | CZ | |
kristalliniteit | Monokristallijn | Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88） |
Geleidbaarheidstype: | P-type | Napson EC-80TPN P/N |
Doteringsmiddel | Boor, Gallium | - |
Zuurstofconcentratie[Oi] | ≦8E+17 bij/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koolstofconcentratie [Cs] | ≦5E+16 bij/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Etch pitdichtheid (dislocatiedichtheid) | ≦500 cm-3 | Voorkeursetstechnieken（ASTM F47-88） |
Oppervlakteoriëntatie | & lt;100>±3° | Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987) |
Oriëntatie van pseudo-vierkante zijden | & lt;010>,<001>±3° | Röntgendiffractiemethode (ASTM F26-1987) |
2 elektrische eigenschappen:
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Weerstand | 0,5-1,5 cm | Wafer inspectiesysteem |
MCLT (levensduur van de minderheidsdrager) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (met injectieniveau: 1E15 cm-3) |
3Geometrie
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Geometrie | Volledig vierkant | |
Lengte wafelzijde: | 210 ± 0,25 mm | wafel inspectiesysteem: |
Wafeldiameter: | φ295±0,25 mm | wafel inspectiesysteem: |
Hoek tussen aangrenzende zijden | 90° ± 0.2° | wafel inspectiesysteem: |
Dikte | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | wafel inspectiesysteem: |
TTV (Totale diktevariatie) | ≤27 µm | wafel inspectiesysteem: |
4 Oppervlakte eigenschappen
Eigendom | Specificatie | inspectie methode |
Snijmethode: | DW | -- |
Oppervlaktekwaliteit | zoals gesneden en schoongemaakt, geen zichtbare vervuiling, (olie of vet, vingerafdrukken, zeepvlekken, slibvlekken, epoxy/lijmvlekken zijn niet toegestaan) | wafel inspectiesysteem: |
Zaagsporen/stappen | ≤ 15µm | wafel inspectiesysteem: |
Boog | ≤ 40 µm | wafel inspectiesysteem: |
kromtrekken | ≤ 40 µm | wafel inspectiesysteem: |
Chip | diepte ≤0,3 mm en lengte ≤ 0,5 mm Max 2/st.; geen V-chip | Blote ogen of wafelinspectiesysteem |
Microscheuren/gaatjes | Niet toegestaan | wafel inspectiesysteem: |
Populaire tags: p type m12 monokristallijne zonnewafel, China, leveranciers, fabrikanten, fabriek, gemaakt in China
